教員紹介

柴田 直哉教授

所在地
113-8656東京都文京区弥生 2-11-16 工学系研究科総合研究機構315号室
TEL
03-5841-0415
FAX
03-5841-7694
MAIL
shibata[at]sigma.t.u-tokyo.ac.jp
メールで連絡下さる際には、上記メールアドレス中の" [at] "を"@"に替えて下さい。
研究室
http://www.saaf.t.u-tokyo.ac.jp/
研究分野
走査透過型電子顕微鏡法、セラミックス、粒界・界面、機能元素、次世代電子顕微鏡開発、電磁場観察

主要研究内容

材料界面の機能発現メカニズムの解明と設計を目指した先進材料研究と、原子分解能走査透過型電子顕微鏡の最前線を開拓する先端ナノ計測研究を車の両輪として研究を進めています。
1)セラミックス界面の原子・電子スケール機能発現メカニズムの解明と設計
2)新型検出器開発と新原理原子分解能電子顕微鏡手法開発
3)次世代透過型電子顕微鏡開発
4)電磁場直接観察手法の材料・デバイス応用

主要研究論文

N. Shibata, Y. Kohno, A. Nakamura, S. Morishita, T. Seki, A. Kumamoto, H. Sawada. T. Matsumoto, S.D. Findlay and Y. Ikuhara, “Atomic resolution electron microscopy in a magnetic field free environment,” Nature Comm., 10, 2380 (2019).
N. Shibata, S. D. Findlay, T. Matsumoto, Y. Kohno, T. Seki, G. Sánchez-Santolino and Y. Ikuhara, “Direct Visualization of Local Electromagnetic Field Structures by Scanning Transmission Electron Microscopy,” Acc. Chem. Res., 50, 1502-1512 (2017).
N. Shibata, T. Seki, G. Sánchez-Santolino, S.D. Findlay, Y. Kohno, T. Matsumoto, R. Ishikawa and Y. Ikuhara, “Electric field imaging of single atoms,” Nature Comm. 8, 15631 (2017).
N. Shibata, S.D. Findlay, Y. Kohno, H. Sawada, Y. Kondo and Y. Ikuhara, “Differential phase-contrast microscopy at atomic resolution,” Nature Phys., 8, 611-615 (2012).

研究内容