柴田 直哉 准教授

所在地 113-8656東京都文京区弥生 2-11-16 工学系研究科総合研究機構315号室
TEL 03-5841-0415
FAX 03-5841-7694
shibata[at]sigma.t.u-tokyo.ac.jp

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研究室 http://interface.t.u-tokyo.ac.jp/japanese/index.html
研究分野 走査透過型電子顕微鏡、セラミックス、粒界・界面、機能元素、触媒

主要研究内容

材料界面の機能発現メカニズムの解明と設計を目指した先進材料研究と走査透過型電子顕微鏡の高度化を追究する先端ナノ計測研究を車の両輪として研究を進めています。
1)セラミックス界面の機能発現メカニズムの解明と設計
2)触媒ナノ界面の構造設計指針の構築
3)新型検出器による新原理原子分解能電子顕微鏡法の開発

主要研究論文

N. Shibata et al., “Differential phase-contrast microscopy at atomic
resolution," Nature Phys., 8, 611-615 (2012).
N. Shibata et al., “Atomic-scale imaging of individual dopant atoms in a
buried interface,” Nature Materials, 8, 654-658 (2009).
N. Shibata et al., "Direct imaging of reconstructed atoms on TiO2 (110)
surfaces", Science, 322,570-573 (2008).
N. Shibata et al., "Non- stoichiometric dislocation cores in a-alumina",Science,
316, 82-85 (2007).
N. Shibata et al., "Observation of rare- earth segregation in silicon nitride
ceramics at subnanometre dimensions", Nature, 428, 730-733 (2004).